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三維積體電路之測試標準與測試介面電路設計:Test Standard and Test Interface Design for Three Dimensional Integrated Circuits
陳振岸 陳宜文 鄭良加 許鈞瓏 Chen, Chen-an; Chen, Yee-wen; Cheng, Liang-chia; Hsu, Chun-lung;
電腦與通訊
154 2013.12[民102.12]
頁5-10
TCI引用統計