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穿透式電子顯微鏡線距量測之不確定度評估:Evaluation for Uncertainties in Line Measurement of Transmission Electron Microscopy
林昆霖 楊君惠 周棟煥 許瓊姿
奈米通訊
19:4 2012.12[民101.12]
頁32-39
TCI引用統計