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應用χ射線粉末繞射儀於鑄造廠中結晶型游離二氧化矽分析:Application of χ-ray Diffractometry on Analysis Crystalline Free Silica in Foundries
郭錦堂 汪禧年 黃惠慈 Kuo, Ching-tang; Uang, Shi-nian; Huang, Hui-tzu;
勞工安全衛生研究季刊
19:2 2011.06[民100.06]
頁247-265
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