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雙光束陰影疊紋干涉儀應用於軟性電子應力之研究:Investigation of Flexible Electronics Stress by the Double Beam Shadow Moire' Interferometer
黃國鼎 羅晏明 廖智群 陳錫釗 Huang, Kuo-ting; Lo, Yen-ming; Liao, Chih-chun; Chen, Hsi-chao;
真空科技
24:2 2011.06[民100.06]
頁82-87
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