刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
奈米光學檢測--高解析度近場光學顯微鏡的應用:Nano-optics Detection--The Application of High Resolution Scanning Near-field Optical Microscope
朱仁佑 Chu, J. Y.;
工業材料
283 2010.07[民99.07]
頁75-84
TCI引用統計