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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2009:2=28 2009.09[民98.09]
- 頁 次:
頁3-9
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
88 2009.06[民98.06]
- 頁 次:
頁39-65
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題 名:
系統晶片測試之掃描鏈重序設計:The Design of Scan Chain Reordering for System-on-Chip Testing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23 2009.02[民98.02]
- 頁 次:
頁111-120
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題 名: