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以密度為基礎之改良型快速分群演算法及其於偏光板瑕疵檢測之應用:Development of an Improved Rapid Density-Based Clustering Algorithm and Its Application on Polarizer Defect Inspection
蔡明忠 吳宗諭 田芬寧 Tsai, Ming-jong; Wu, Chung-yu; Tien, Fen-ning;
技術學刊
24:4 2009.12[民98.12]
頁267-274
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