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以電荷汲引技術測量金氧半電晶體之High-k邊緣陷阱縱深及能量分佈與可靠度分析:
呂君章 張師誠 張廖貴術
電子月刊
15:5=166 2009.05[民98.05]
頁141-153
TCI引用統計