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二氧化矽薄膜之熱傳導係數與邊界熱阻之量測研究:Measurement of Thermal Conductivity and Thermal Boundary Resistance on SiO₂ Thin Films
饒達仁 賴威志 簡恆傑 徐振庭 Yao, Da-jeng; Lai, Wei-chih; Chien, Heng-chieh; Hsu, Cheng-ting;
科儀新知
29:4=162 2008.02[民97.02]
頁59-65
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