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題 名:
雜散摻雜原子對多重閘極電晶體的影響:Impact of Discrete Impurity Atoms on Multi-Gate MOSFETs
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3 2007.02[民96.02]
- 頁 次:
頁17-29
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題 名:
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題 名:
製程能力分析管控液晶臨界電壓:Process Capability Analysis Applied for Threshold Voltage Control
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
43:1 2007.01[民96.01]
- 頁 次:
頁68-74
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:9=146 2007.09[民96.09]
- 頁 次:
頁130-141