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微細化電路失效現象及離子遷移測試方法之探討:Research in the Phenomenon of Fine Pitch Circuit Failure and the Test Method of Ion Migration
陳華娉 劉恒廷 郭厚昌 楊志輝 Chen, H. P.; Liu, H. T.; Kuo, H. C.; Yang, C. H.;
工業材料
240 民95.12
頁166-178
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