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題 名:
掃描探針顯微鏡在環境控制下之應用:Application of Scanning Probe Microscopy under Environmental Control
- 作 者:
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- 卷 期:
26:4=144 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁28-38
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁7-15
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題 名:
原子力顯微技術之奈米級蝕刻術初步探討:Nanometer Scale Lithography Using Atomic Force Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁15-24
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題 名: