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檢索結果筆數(7)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
635 民94.10
- 頁 次:
頁20-23
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題 名:
商用原子力顯微儀的評估方法:A Quick Method of Evaluation for Commercial Atomic Force Microscope
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁58-65
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4 民94.11
- 頁 次:
頁53-78
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:4 民94.08
- 頁 次:
頁83-91
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
633 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁42-54
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
129 2005.01[民94.01]
- 頁 次:
頁118-125
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:2 民94.12
- 頁 次:
頁41-61