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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:4 2004.10[民93.10]
- 頁 次:
頁205-228
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 2004.06[民93.06]
- 頁 次:
頁283-302
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題 名:
晶圓良率損失資料分群模式之研究:A Data Clustering Model for Wafer Yield Loss in Semiconductor Manufacturing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁328-338
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 民93.01
- 頁 次:
頁437-460