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題 名:
Minimum Average Fraction Inspected for Modified Tightened Two-level Continuous Sampling Plans:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:1 2004.03[民93.03]
- 頁 次:
頁37-40
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:2 2004.06[民93.06]
- 頁 次:
頁40-51
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題 名:
應用波元轉換作紋理影像之瑕疵檢測:Texture Defect Extraction Using Wavelet Transform
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:2 2004.06[民93.06]
- 頁 次:
頁62-77
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題 名:
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題 名:
射出成型物之瑕疵檢測系統簡介:Introduction to a Defect Detection System for an Injection Molding
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:2 2004.06[民93.06]
- 頁 次:
頁78-83
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:7 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁85-90
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 2004.06[民93.06]
- 頁 次:
頁137-146
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題 名:
Minimum Average Fraction Inspected for Modified CSP-1 Plan:使平均檢驗率為最小修正連續抽樣計劃
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:1 2004.01[民93.01]
- 頁 次:
頁35-43
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:2 2004.03[民93.03]
- 頁 次:
頁121-135
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題 名:
晶圓良率損失資料分群模式之研究:A Data Clustering Model for Wafer Yield Loss in Semiconductor Manufacturing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁328-338
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題 名:
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題 名:
IC元件X、Y平面及Z方向置放良率分析:The Placement Yield Analysis for IC Components in the X-Y Plane and Z Direction
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁339-348
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題 名:
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題 名:
動態X光影像強化與瑕疵分類之研究:Study of Dynamic X-Ray Image Enhancement and Defects Classification
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁409-421
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題 名: