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新世代穿透式電子顯微鏡試片製備技術於磁、光電及半導體元件實務應用:New Generation Technology of Specimen Preparation for Transmission Electron Microscope: Application in Magnetic, Optoelectronic, and Semiconductor Devices
黃榮潭 江正誠 殷開明 開執中 陳福榮 Huang, Rong-tan; Chiang, Cheng-cheng; Yin, Kai-min; Kai, Ji-ju; Chen, Fu-rong;
科儀新知
25:5=139 2004.04[民93.04]
頁46-58
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