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積體電路良率管理之良率模式構建--類神經網路之應用:Constructing Yield Prediction Model for IC Yield Management: Applying Artificial Neural Networks
謝昆霖 唐麗英 Hsieh, Kun-lin; Tang, Li-ying;
資訊管理研究. 南華大學
3 2003.07[民92.07]
頁47-63
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