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題 名:
IC測試業:
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作者:
- 書刊名:
彰銀資料
- 卷 期:
51:11 2002.11[民91.11]
- 頁 次:
頁136-143
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題 名:
IC測試業:
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作者:
劉世忠
- 書刊名:
華銀月刊
- 卷 期:
52:6=617 2002.06[民91.06]
- 頁 次:
頁26-33
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題 名:
可測試設計(Design for Test)--低測試成本下高品質IC之迅速出貨:
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作者:
吳文慶
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
8:5=82 2002.05[民91.05]
- 頁 次:
頁162-169
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