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高分辨電子顯微鏡技術在三五族化合物半導體工業上的應用:The Industrial Applications of High Resolution Transmission Electron Microscopy on the Ⅲ-Ⅴ Compound Semiconductors
郭行健 Guo, Xing-jian;
科儀新知
24:3=131 2002.12[民91.12]
頁40-51
TCI引用統計