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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
217 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁114-124
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 民90.12
- 頁 次:
頁63-69