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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:10=130 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁224-235
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁6-9
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁10-15
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁40-45
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
48 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁34-37
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- 題 名:
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編 次:
上
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
48 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁54-57
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
92 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁71-73
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:7=72 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁124-127
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:7=72 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁128-136
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
46 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁28-30
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
46 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁32-34
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
46 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁36
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
46 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁50-56
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
45 2001.01[民90.01]
- 頁 次:
頁58-59
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40 2001.02[民90.02]
- 頁 次:
頁5-7
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁5-7
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- 題 名:
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編 次:
上
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁8-11
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- 題 名:
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編 次:
下
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
43 2001.08[民90.08]
- 頁 次:
頁7-8