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建構半導體晶圓允收測試資料挖礦架構及其實證研究:Developing Data Mining Framework and Methods for Diagnosing Semiconductor Manufacturing Defects and an Empirical Study of Wafer Acceptance Test Data in a Wafer Fab
簡禎富 林鼎浩 彭誠湧 徐紹鐘 Chien, Chen-fu; Lin, Ting-hao; Peng, Cheng-yung; Hsu, Shao-chung;
工業工程學刊
18:4 2001.07[民90.07]
頁37-47
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