查詢結果
檢索結果筆數(1)。
各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
-
題 名:
積體電路元件構裝之非破壞檢測技術簡介:The Introduction of NDT for IC Package
-
作者:
蕭祝阴
施能謙
朱時梁
Hsiao, U. C.;
Shie, N. C.;
Chu, S. L.;
- 書刊名:
檢測科技
- 卷 期:
18:6 民89.11-12
- 頁 次:
頁215-227
-
被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
排除自我引用:0
共同引用:0
點閱:0