刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
多重變異來源特性之半導體製程取樣與統計製程管制策略:Rational Sampling and Statistical Process Control for Semiconductor Processes Subject to Multiple Variation Sources
陳正剛 郭瑞祥 葉珮甄 Chen, Argon; Guo, R. S.; Yeh, P. J.;
中國統計學報
38:3 2000.09[民89.09]
頁269-285
TCI引用統計