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以氣相層析質譜法偵測半導體廠作業環境空氣中有害物:Probing Airborne Chemicals of Semiconductor Work Place Using Gas Chromatography Mass Spectrometry
葉銘鵬 吳榮泰 余榮彬 Yeh, Ming-peng; Wu, Rong-tai; Yu, Jung-pin;
勞工安全衛生研究季刊
8:2 2000.06[民89.06]
頁159-174
TCI引用統計