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以掃瞄電子顯微/X射線能譜分析法鑑析紙張上鉛筆墨跡之研究:The Application of Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-ray Analysis to the Study of Pencil Marks
孟憲輝 徐健民 洪漢周 楊詔凱 Meng, Hsien-hui; Hsu, Chien-min; Hung, Hang-chu; Yang, Chau-kai;
刑事科學
47 1999.03[民88.03]
頁11-22
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