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積體電路構裝製程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究:Parameter Settings of Visual Inspection Machine for Reduction of Judgement Errors in IC Package Process
林宏達 朱達宏 Lin, Hong-dar; Ju, Dar-hong;
朝陽學報
4 民88.10
頁119-142
TCI引用統計