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題 名:
Design and Fabrication of a Strain-Type Scanning Probe for Atomic Force Microscopy:應變式掃瞄探針之設計與製作
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1 1999.02[民88.02]
- 頁 次:
頁1-9
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題 名: