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應用霍式紅外光譜法調查半導體廠製程危害性氣體:Investigation of Semiconductor Work Place Airborne Chemicals by Fourier Transform Infrared Spectroscopy
葉銘鵬 吳榮泰 余榮彬 Yeh, Ming-peng; Wu, Rong-tai; Yu, Jung-pin;
勞工安全衛生研究季刊
7:4 1999.12[民88.12]
頁389-400
TCI引用統計