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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
85 1998.11[民87.11]
- 頁 次:
頁15-16
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁59-67
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:1 1998.04[民87.04]
- 頁 次:
頁63-69
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題 名:
工業原料中結晶型游離二氧化矽含量調查:Survey on Free Silica Content in Industrial Material
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:3 1998.09[民87.09]
- 頁 次:
頁83-98
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:4 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁679-690
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:3=67 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁124-139
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁53-66
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題 名:
電顯及紅外光譜應用於塗布紙塗層結構分析:Analysis on the Coating Layer of Coated Paper by EM and FTIR
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:3 1998.09[民87.09]
- 頁 次:
頁537-550
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題 名:
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題 名:
大理石材之化學機械研磨(CMP)性質研究:A Study on the Chemomechanical Polishing (CMP) Properties of Marble
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42:3=163 1998.09[民87.09]
- 頁 次:
頁52-66
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題 名:
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題 名:
The Use of FTIR and SSNTDs in Measuring Low-Level Alpha Particles:利用霍氏紅外光譜與固態核子軌跡偵檢器測量低放射強度阿伐粒子
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:5 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁326-330
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:1 1998.03[民87.03]
- 頁 次:
頁77-85
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題 名:
錫-鉛-磷-氧-氟低熔融玻璃之性質與結構:Structure and Properties of Sn-Pb-P-O-F Low Melting Glasses
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:2 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁87-94
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題 名: