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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:6 1998.11[民87.11]
- 頁 次:
頁43-50
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題 名:
考慮製程能力指標之允收抽樣計劃:Acceptance Sampling Plans Based on Capability Indices
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:1 1998.01[民87.01]
- 頁 次:
頁95-102
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37:5=437 1998.05[民87.05]
- 頁 次:
頁1-14
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁135-152