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題 名:
應用超音波量測薄層系統的材料常數:Measuring Material Constants of Thin Layered Media by Using the Ultrasonic Method
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
74 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁111-137
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題 名:
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題 名:
應用簡單幾何形狀試片之側壁回波量測材料常數:Measuring Material Constants by Using Simple Geometry of Specimens
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:3 民87.05-06
- 頁 次:
頁100-108
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題 名: