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題 名:
半導體元件可靠度簡介--熱載子效應:Semiconductor Device Reliability--Hot Carrier Effect
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁53-58
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁84-96
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題 名:
美西大停電的探討:Investigation of the Massive Blackouts in the Western United States
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
584 1997.04[民86.04]
- 頁 次:
頁49-55
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題 名: