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題 名:
單一粒界VLSI鋁線之EM現象研究:Electromigration in a Single Grain Boundary Structure AL Line
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:3 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁433-438
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32 1997.10[民86.10]
- 頁 次:
頁13509-13546