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- 卷 期:
31 2012.12[民101.12]
- 頁 次:
頁26-32
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題 名:
原子力顯微鏡搭配雙傾斜疊合法量測線寬之技術研究:AFM Linewidth Measurement Employing Image Stitching Method
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁36-45
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題 名:
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題 名:
金奈米線機電特性量測:Measurements of Mechanical/Electrical Characteristics of Gold Nanowires
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁21-28
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題 名:
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題 名:
奈米複合材料分析技術介紹與應用:The Introduction and Application of Characterization Techniques in Nano-composites
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁29-37
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題 名:
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題 名:
高擬真3D立體顯示技術發展:High Reality 3D Display Technology Development
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁49-54
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題 名:
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題 名:
像散式角度量測讀取頭系統之研發:Development of Astigmatic Pick-up Head System for Angular Measuring
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 2010.09[民99.09]
- 頁 次:
頁28-33
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題 名:
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題 名:
材料奈米檢測技術在工研院之研究成果介紹:Introduction to Nanoscale Characterization Techniques in ITRI
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁15-24
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題 名:
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題 名:
SPM技術產業應用與ITRI SPM介紹:Applications of SPM Technology and Introduction to ITRI SPM
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁25-30
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題 名:
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題 名:
靜電式相位板在穿透式電子顯微鏡的應用:Applications of Electrostatic Phase Plates in Transmission Electron Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁38-46
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題 名:
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題 名:
散射式掃描近場光學顯微鏡:Scattering-type Scanning Near-Field Optical Microscopy S-SNOM
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁55-64
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7 民95.12
- 頁 次:
頁62-71