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- 卷 期:
50:1=589 2019.01[民108.01]
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頁20-23
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- 卷 期:
50:5=593 2019.05[民108.05]
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頁60-63
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- 卷 期:
51:7=607 2020.07[民109.07]
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頁12-15
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- 卷 期:
51:7=607 2020.07[民109.07]
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頁16-19
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- 卷 期:
51:7=607 2020.07[民109.07]
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頁24-25
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- 卷 期:
51:7=607 2020.07[民109.07]
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頁26-29
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- 卷 期:
51:7=607 2020.07[民109.07]
- 頁 次:
頁30-31
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- 卷 期:
51:7=607 2020.07[民109.07]
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頁32-33
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題 名:
第五代行動通訊技術5G晶片的可靠度分析與評估:A Case Study of Reliability Analysis & Evaluation for Mobile 5G Chipset
- 作 者:
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- 卷 期:
56:7 2020.07[民109.07]
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頁28-39
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題 名:
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- 卷 期:
51:8=608 2020.08[民109.08]
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頁74-77