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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2=106 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁80-85
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:5=121 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁67-75
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁61-67
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:3=191 2012.12[民101.12]
- 頁 次:
頁4-13
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6=194 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁57-66
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題 名:
光擾對掃描電容顯微術之影響分析:The Influence of Photoperturbation on Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1=141 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁56-62
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題 名:
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題 名:
電極接面對掃描電容顯微術之影響:Influences of Electrode Junctions on Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
206 2016.03[民105.03]
- 頁 次:
頁19-26
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題 名:
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題 名:
高靈敏度掃描電容顯微術之發展與應用:Development and Applications of High-Sensitivity Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:1=177 2010.08[民99.08]
- 頁 次:
頁6-12
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
212 2017.09[民106.09]
- 頁 次:
頁26-39