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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2=106 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁67-74
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:5=109 1999.04[民88.04]
- 頁 次:
頁68-83
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1=105 1998.08[民87.08]
- 頁 次:
頁39-50
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1=105 1998.08[民87.08]
- 頁 次:
頁51-58
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:1=111 1999.08[民88.08]
- 頁 次:
頁65-75
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4=114 2000.02[民89.02]
- 頁 次:
頁73-82
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:2=124 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁4-9
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:2=124 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁22-26
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:4=120 2001.02[民90.02]
- 頁 次:
頁46-61
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:4=120 2001.02[民90.02]
- 頁 次:
頁62-70
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:6=116 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁28-39
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:6=116 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁72-80
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:5=115 2000.04[民89.04]
- 頁 次:
頁73-86
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:3=119 2000.12[民89.12]
- 頁 次:
頁37-46
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:3=119 2000.12[民89.12]
- 頁 次:
頁92-95
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:5=103 1998.04[民87.04]
- 頁 次:
頁6-10
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:5=133 2003.04[民92.04]
- 頁 次:
頁61-66
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題 名:
XPS超薄薄膜分析:Ultra-Thin Film Analysis by Angled Resolved X-Ray Photoelectron Spectroscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁4-13
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題 名:
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題 名:
飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用:The Principle and Applications of Secondary Ion Mass Spectrometer
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁14-26
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題 名: