刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
Detection of Gate-Oxide Integrity in Plasma Etching Process with Differential Amplifier Circuit Design:於電漿蝕刻製程中藉著差動放大器線路以偵測閘極氧化層的品質
王木俊 蔡政村 陳厚銘 廖御傑 Wang, Mu-chun; Tsai, Cheng-tsun; Chen, Hou-ming; Liau, Yu-jie;
暨大學報
7:1 2003.06[民92.06]
頁155-168
TCI引用統計