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- 題 名:
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- 卷 期:
22:2=247 1996.02[民85.02]
- 頁 次:
頁168-172
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:8 1998.08[民87.08]
- 頁 次:
頁67-70
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:5 2000.05[民89.05]
- 頁 次:
頁58-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁56-59
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
39:1 2003.01[民92.01]
- 頁 次:
頁64-66
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2=223 1994.02[民83.02]
- 頁 次:
頁150-154
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:3=224 1994.03[民83.03]
- 頁 次:
頁112-123
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- 題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁135-152
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- 題 名:
產品包含兩不相同組件之貝氏檢驗模式:Bayesian Inspection Sampling Models for A Product Containing Two Distinct Parts
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:1 民84.05
- 頁 次:
頁19-41
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:10 民94.10
- 頁 次:
頁53-56
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:10 民94.10
- 頁 次:
頁63-65
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42:5 民95.05
- 頁 次:
頁56-61
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:2 民94.06
- 頁 次:
頁89-100
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:9 1989.09[民78.09]
- 頁 次:
頁16-31
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2 1990.02[民79.02]
- 頁 次:
頁33-51
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:11 1985.11[民74.11]
- 頁 次:
頁29-38
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:12 1985.12[民74.12]
- 頁 次:
頁34-42