查詢結果
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題 名:
Test Generation Algorithm for Combinational Circuit:組合電路之測試產生器演算法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11 1995.06[民84.06]
- 頁 次:
頁37-48
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14 1991.07[民80.07]
- 頁 次:
頁49-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14 1991.07[民80.07]
- 頁 次:
頁343-354
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題 名:
A Partitioning Approach to Design Fault-Tolerant, Arithmetic Arrays:分裂法在算術陣列結構之容錯設計
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7 1992.02[民81.02]
- 頁 次:
頁57-82
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4 1989.03[民78.03]
- 頁 次:
頁208-269