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題 名:
A Method of Measuring TEC at Low Elevation Angles:低仰角測量電離層總電子密度的方法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:2 1995.06[民84.06]
- 頁 次:
頁337-346
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:2 1991.06[民80.06]
- 頁 次:
頁147-162
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:4 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁715-737
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:1 民95.03
- 頁 次:
頁169-178