刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
Evaluation of Y₂O₃ Gate Insulators Thickness for α-IGZO Thin Film Transistors:α-IGZO薄膜晶體之Y₂O₃閘極絕緣體厚度研究
翁晉笠 許世昌 Weng, Jin-li; Shei, Shih-chang;
International Journal of Science and Engineering
11:2 2021.10[民110.10]
頁29-39
TCI引用統計