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Simultaneous Test Scheduling and TAM Bus Wire Assignment for Temperature-Dependent Core-Based SoC Testing:
Huang, Shih-hsu; Chiu, Ching-chun; Cheng, Chun-hua; Wang, Te-jui;
International Journal of Electrical Engineering
23:2 2016.04[民105.04]
頁53-62
TCI引用統計