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Study of the a-Si:H/c-Si Heterointerface by Ex-Situ Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Solar Cell Modeling:
Pehlivan, O.; Karataş, S.; Yilmaz, O.; Kodolbaş, A. O.; Duygulu, O.; Duygulu, N.; Iskender, I.; Tomak, M.;
Chinese Journal of Physics
53:3 2015.06[民104.06]
頁(060803)1-(060803)13
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