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- 卷 期:
7:1 民94.03
- 頁 次:
頁12-19
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題 名:
Effect of Improved Tracking for Atomic Force Microscope on Piezo Nonlinear Behavior:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:3 2015.05[民104.05]
- 頁 次:
頁747-761
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁104-109
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題 名:
High-speed Serial-kinematic SPM Scanner: Design and Drive Considerations:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁144-153
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題 名:
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題 名:
Rapid AFM Imaging of Large Soft Samples in Liquid with Small Forces:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁154-165
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題 名:
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題 名:
Image-based Hysteresis Modeling and Compensation for an AFM Piezo-scanner:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁166-174
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題 名:
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題 名:
A Comparison of Control Architectures for Atomic Force Microscopes:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁175-181
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題 名:
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題 名:
Creep and Hysteresis Compensation for Nanomanipulation Using Atomic Force Microscope:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁182-187
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題 名:
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題 名:
Semi-automatic Tuning of PID Gains for Atomic Force Microscopes:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁188-195
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2018.07[民107.07]
- 頁 次:
頁1317-1328
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題 名:
Adaptive Tilting Angles to Achieve High-precision Scanning of a Dual Probes AFM:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2018.07[民107.07]
- 頁 次:
頁1339-1351
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2018.07[民107.07]
- 頁 次:
頁1352-1366
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題 名:
A Wavelet Packet Tree Denoising Algorithm for Images of Atomic-Force Microscopy:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2018.07[民107.07]
- 頁 次:
頁1367-1378
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題 名:
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題 名:
A Survey of Methods Used to Control Piezoelectric Tube Scanners in High-Speed AFM Imaging:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2018.07[民107.07]
- 頁 次:
頁1379-1399
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題 名: