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- 卷 期:
9:2 民91.12
- 頁 次:
頁1-17
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
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- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 2004.05[民93.05]
- 頁 次:
頁561-566
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
53(工程科學類) 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁33-38
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題 名:
光學式方向定位器之研究:The Development of a Miniature Optical Directional Positioner
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11 民94.09
- 頁 次:
頁147-158
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題 名:
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
54(工程科學類) 2008.03[民97.03]
- 頁 次:
頁25-29
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:1 2009.02[民98.02]
- 頁 次:
頁43-60
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題 名:
品質管理理論與實用之解析:The Analytical of Legal Issues of Quality Management Theory and Practice
- 作 者:
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- 卷 期:
38 2018.12[民107.12]
- 頁 次:
頁65-72
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題 名: