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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 1997.06[民86.06]
- 頁 次:
頁99-107
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題 名:
氧化層厚度在矽晶元件上之研究:The Study of Oxide Thickness in the Silicon Device
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25 2002.03[民91.03]
- 頁 次:
頁621-634
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題 名:
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題 名:
The Effects of Low Power Level of Ultrasonic Waves of Rice Wine Maturation:低頻超音波於米酒熟成之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁1-12
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
45 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁219-225
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28 民94.03
- 頁 次:
頁123-131
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 2011.03[民100.03]
- 頁 次:
頁153-162
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題 名:
Using Optical Level Technique to Measure Thin Film Stress:以雷射光水平技術量測薄膜的應力
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁137-145
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 2009.12[民98.12]
- 頁 次:
頁191-198
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
48 民94.03
- 頁 次:
頁77-81