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題 名:
半導體元件可靠度簡介--熱載子效應:Semiconductor Device Reliability--Hot Carrier Effect
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁53-58
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁84-96
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題 名:
次微米互補式金氧半積體電路之靜電放電防護--進階篇:ESD Protection for Submicron CMOS IC's--Recent Development
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
52 1996.09[民85.09]
- 頁 次:
頁84-96
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題 名: