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用於光化交接箱之漏電斷路器之動作時間測試:Break-time Measurement of Residual Current Device Used in Optical Cross-connect Cabinet
孫航永 李錦智 盧義明 董元昕 Sun, Han-yon; Lee, Richard J.; Lu, Yi-ming; Tung, Yuan-hsin;
電信研究
39:1 2009.02[民98.02]
頁183-188
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